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乐叶单晶组件通过300小时双八五PID测试

2016-2-3 17:00| 发布者: solartest| 查看: 4656| 评论: 0

摘要:   近日,乐叶光伏常规单晶组件在随机抽检条件下,顺利通过TÜV莱茵PID测试,在300小时的严苛条件下,全部样品测试衰减率均低于1%,达到业界顶尖水平。  TÜV莱茵依据“2 PfG 2387/04.14”标准,随机抽检了乐叶光 ...
  近日,乐叶光伏常规单晶组件在随机抽检条件下,顺利通过TÜV莱茵PID测试,在300小时的严苛条件下,全部样品测试衰减率均低于1%,达到业界顶尖水平。

  TÜV莱茵依据“2 PfG 2387/04.14”标准,随机抽检了乐叶光伏高效单晶组件进行PID测试,在+1000V / 300h / 85°C /相对湿度85%、-1000V / 300h / 85°C / 相对湿度85%测试条件下,结果显示所有样品功率衰减低于1%,并且顺利通过湿漏电测试。

  业内通用标准是在温度60°C、相对湿度85%、电压±1000V的环境下进行96个小时PID测试,组件功率衰减不超过5%即为合格,衰减在2%以内即为优秀标准。乐叶光伏组件测试时间超过通用标准3倍以上,测试温度比通用标准高出25°C,衰减率不到1%,功率稳定性表现出众,证实了在高温、高湿环境下优异的可靠性和稳定性。

  PID全称“Potential Induced Degradation”,即“电势诱导衰减”。光伏产业界近年来对这一现象高度的重视,原因是PID现象会导致组件产生严重的功率损失,开压和填充因子显著下降,组件EL变黑,甚至是完全变黑。NREL对PID现象进行过深入的研究,并且对其形成的机理有过详细的推断,PID的产生和组件封装材料、电池减反射膜的特性以及使用环境的温湿度密切相关。

  乐叶光伏坚持采用半导体级品质的单晶硅片生产电池和组件,帮助客户降低电站投资成本、提高发电收益,与此同时,严格选用高标准的背板、EVA、玻璃材料,并通过电池工艺改善控制功率衰减损失,为高效率单晶组件增加高可靠品质保障。
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