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图 2:电性能测试验证示例。 a)预处理后的组件功率损耗。 b)功率偏差与铭牌上的额定功率。 图 2b 中显示了铭牌额定值的一个示例。在此情况下,实际测得的功率与规定的铭牌额定值相比,约小 2.2%。这种不一致很有可能导 致预期与实际功率输出之间出现差异。 电致发光:失效检测与映射 第二种评估方法即电致发光(EL)成像法,主要用于晶体硅 PV 组件,因为若采用这种方法,普遍认为会出现明显的各种组件缺陷。*11,*12 通过 EL 成像,能确定各种不同类型的缺陷,每种都有其根本原因和性能影响。根据常规方法评估 EL 图像可提供与 PV 组件可靠性有 关的有用信息。 图 3 显示了两种组件,每种都存在不同数量、严重程度各不相同的裂缝。与组件编号 1 中所述情况相类似的组件通常尚可接受,并能 以可靠的方式发电。与组件编号 2 中所述情况相类似的组件通常会在较短时间后显示出失效区域,该区域会导致严重的功率损耗。 图 3:两个组件的 EL 图像;组件编号 1 显示了一些不太严重的裂缝,而组件编号 2 则显示了一些非常严重的缺陷。 通过评估单个批次中的多个图像,通过缺 陷数量与分布情况确定大致的质量水平 成为可能。图 4 显示了此类评估的一个示 例。每个批次都包括相同数量的组件。在 第 1 批中,仅发现了少量随机分布的缺陷, 这表明测试通过。然而,在第 2 批中,缺 陷组件的数量显著增加,并且缺陷和电池 裂缝主要集中在 I4 和 J5 区域。 总之,这些观察结果均说明制造过程或组 件成品运输过程、或两个过程都存在重要 问题。无论如何,第 2 批的测试结果无法 接受,并且通过进一步的调查将能找出根 本原因。更多措施可以包括在安装前对所 有组件开展 EL 检测或更频繁的检测,并对 在用的 PV 系统开展测试。 |