文中以组件发生的蚯蚓纹作为研究对象，通过老化试验和户外模拟，进行了功率衰减和蚯蚓纹现象的重视研究。研究结果表明：蚯蚓纹的发生时温度、光照、电流、湿度交互作用的结果，与水汽渗透过高存在一定关系。, j/ { v4 J8 s( \, `5 W
晶体硅组件蚯蚓纹现象浅谈.zip
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