SIMS测试分析部位于南昌大学青山湖校区。主要利用二次离子质谱仪对材料中的微量元素进行分析，包括深度剖面分析和微区成分成像。所用仪器为法国CAMECA公司生产的IMS7f型磁质动态二次离子质谱仪。

      SIMS主要功能：

       IMS7f型二次离子质谱仪配备氧和铯双离子源，是灵敏度很高的元素和同位素表面分析技术，可用于：

       （1）表面分析：可分析来自样品表面2-3原子层的信息；深度剖析范围可从nm-μm。

       （2）元素分析：可分析包括氢在内的周期表中所有元素，灵敏度可达ppm/ppb量级。但定量分析需要标样。分析化合物组分和分子结构，并给出稳定同位素的信息。

       （3）元素分布的二维和三维成像：空间分辨率可达0.4μm；深度分辨率可达2nm；

       （4）可对包括绝缘体、半导体和导体所有固体样品作微区成分成像和深度剖面分析。

        技术服务范围：

        （1）材料中元素分布的定量分析

        （2）材料微量元素污染分析

        （3）材料中金属元素的扩散分析

        （4）表面污染分析

        （5）元素分布二维及三维成像。

        SIMS在光伏中的应用