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提供SIMS分析测试

发布者: echo | 发布时间: 2013-8-6 17:05| 查看数: 4190| 评论数: 0

测试供求
产品名称: SIMS分析测试
公司名称: 国家硅基LED工程技术研究中心
地区: 南昌
公司网址: www.testpv.com
       SIMS测试分析部位于南昌大学青山湖校区。主要利用二次离子质谱仪对材料中的微量元素进行分析,包括深度剖面分析和微区成分成像。所用仪器为法国CAMECA公司生产的IMS7f型磁质动态二次离子质谱仪。

      SIMS主要功能:

       IMS7f型二次离子质谱仪配备氧和铯双离子源,是灵敏度很高的元素和同位素表面分析技术,可用于:

       (1)表面分析:可分析来自样品表面2-3原子层的信息;深度剖析范围可从nm-μm。

       (2)元素分析:可分析包括氢在内的周期表中所有元素,灵敏度可达ppm/ppb量级。但定量分析需要标样。分析化合物组分和分子结构,并给出稳定同位素的信息。

       (3)元素分布的二维和三维成像:空间分辨率可达0.4μm;深度分辨率可达2nm;

       (4)可对包括绝缘体、半导体和导体所有固体样品作微区成分成像和深度剖面分析。

        技术服务范围:

        (1)材料中元素分布的定量分析

        (2)材料微量元素污染分析

        (3)材料中金属元素的扩散分析

        (4)表面污染分析

        (5)元素分布二维及三维成像。

        SIMS在光伏中的应用

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