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光伏组件潜在电势诱导衰减(PID)测试方案

发布者: echo | 发布时间: 2013-5-8 13:56| 查看数: 2702| 评论数: 0

        PID最早是Sunpower在2005年发现的。组件长期在高电压作用下使得玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量电荷聚集在电池片表面,使得电池表面的钝化效果恶化,导致FF、Isc、Voc降低,使组件性能低于设计标准。
       附件中涵括了PID背景介绍、检验内容、测试相关标准以及目前进行的试验。
光伏组件潜在电势诱导衰减(PID)测试方案.zip 立即下载 (1.18 MB, 下载次数: 49)

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