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晶硅PID组件弱光性能研究

2015-2-10 22:34| 发布者: 硅胶板| 查看: 15552| 评论: 0

摘要: PID(Potential Induced Degradation电势诱导衰减)是一种因光伏组件负极和边 框及玻璃之间存在负偏置电压而出现的电性能衰减现象。本文对PID 组件弱光性能的影响因素,户外弱光下不同衰减程度PID组件和正常组件的开 ...
二. 实验内容

       本部分以实际电站中的同批次245W普通多晶PID组件为例,按其测试好的电性能功率大小、Rsh和EL下的严重程度进行筛选,共计6片PID组件,并选择2片正常组件作为参考组件进行实验。

       2.1  电性能测试结果

       选择的实验对象组件如表1所示,从表1可知,在STC条件下的测试结果,PID组件1至PID组件6其衰减程度逐渐变大,功率和Rsh逐渐降低。和正常组件相比,Voc的差异并不明显,最大差异约在3V左右,尤其是发生轻微PID的组件,如PID组件1和2,和正常组件相比,Voc差异非常小。 

名称

Eff

Rsh

Rs

FF

Isc

Voc

Imax

Vmax

Pmax

衰减比例

正常组件1

15.21%

220.66 

0.59 

73%

8.98 

37.63 

8.35 

29.63 

247.42 

 

正常组件2

15.31%

141.15 

0.58 

73%

9.01 

37.68 

8.38 

29.71 

249.06 

 

PID组件1

13.42%

122.78 

0.58 

67%

8.65 

37.65 

7.41 

29.46 

218.32 

10.89%

PID组件2

12.22%

95.95 

0.62 

61%

8.66 

37.48 

6.84 

29.09 

198.86 

18.83%

PID组件3

10.88%

33.98 

0.78 

56%

8.58 

37.00 

6.45 

27.42 

176.95 

27.77%

PID组件4

9.79%

22.42 

0.86 

51%

8.52 

36.67 

6.02 

26.45 

159.26 

35.00%

PID组件5

8.61%

13.79 

1.14 

46%

8.59 

35.76 

5.73 

24.45 

140.06 

42.83%

PID组件6

7.15%

9.54 

1.45 

41%

8.34 

34.06 

5.21 

22.34 

116.34 

52.51%

表1 PID组件与正常组件电性能测试结果对比

       2.2  EL测试结果

       图3为上述PID组件的EL图像,一般的,PID组件的衰减从四周开始,四周的电池片比中间的电池片要严重很多,随着衰减程度的增加,四周和中间电池片逐渐变黑。

图3(a) PID组件1    图3(b)PID组件2  图3(c)PID组件3

图3(d) PID组件4     图3(e)PID组件5   图3(f)PID组件6

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