通过PL系统分析，可精确定位到diffusion这一步有问题，diffusion厚度不均，滚轮damage等；后续的工艺乃至最后的电池片结果说明，厚度不均的问题在之后的环节对wafer进行了优化，最后不会明显减低cell效率，而滚轮的damage影响到之后所有的环节，并最终影响到cell效率。 2．少子寿命的分析
PL系统可以分析整个面及内部指定位置的少子寿命，并可以分析不同寿命的原因。 3．I-V曲线分析
PL光致发光系统可以对电池进行I-V曲线测试，在需要的情况下，PL的I-V经过标准电池的校准后，可以代替专门市场上的I-V曲线测试仪。 4．EL检测分析
PL光致发光的系统中的EL模块，可以清楚检测到电池片中包括隐裂在内的各种缺陷，可以完全取代专门的offine EL检测设备。 5．PL系统检测结果与其他设备对比
五、总结 PL检测系统能够适用于单晶硅片及电池、多晶硅片及电池、薄膜电池、化合物电池等几乎所用的太阳能电池。能够检测少子寿命、串联电阻、进行硅片分类、检测各种缺陷、暗条件I-V曲线、光照条件I-V曲线等完整的一系列参数。检测速度快，时间小于1秒，精度高，能实时找到每个致效率降低的缺陷和原因，真正实现了在线的准确快速检测，是减低生产成本，提高电池品质，产品竞争力革命性增长的必不可少的检测设备。 |
