5）将样品接线盒加热至90℃，保持30min（此时二极管的温度已经稳定），测试二极管壳体的温度和时间的曲线图如下：
（二）单排二极管串联排列的接线盒（如图七）：
试验条件：给样品接线盒通以额定电流8A，控制其它的测试条件不变，改变样品接线盒所处的环境温度： 1）将样品接线盒加热至70℃，保持30min（此时二极管的温度已经稳定），测试二极管壳体的温度和时间的曲线图如下：
2）将样品接线盒加热至75℃，保持30min（此时二极管的温度已经稳定），测试二极管壳体的温度和时间的曲线图如下：
3）将样品接线盒加热至80℃，保持30min（此时二极管的温度已经稳定），测试二极管壳体的温度和时间的曲线图如下：
4）将样品接线盒加热至85℃，保持30min（此时二极管的温度已经稳定），测试二极管壳体的温度和时间的曲线图如下：
5）将样品接线盒加热至90℃，保持30min（此时二极管的温度已经稳定），测试二极管壳体的温度和时间的曲线图如下：
从上面两种接线盒的测试数据输出图表可以看出，在控制其他的测试条件不变的情况下接线盒二极管的壳体温度随着环境温度的升高而增大，环境温度越高，二极管壳体温度增加的幅度越大。 |
