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图8 太阳能电池栅线2D和3D形貌 LSCM快速无损测量,更适合监控的需要,目前唯一的不足是还需要人工选点,不能进行测量程序的二次开发实现大面积、多点自动测量,人工选点就存在一定的局限性和统计偏差。 2.4 制程异常判断 除了上述几个电池生产环节监控的应用,LSCM作为高精度外观、形貌分析技术,通过与硅片或电池参数、红外热成像(IR,infra-red thermal imaging)[8]、光/电致发光(PL/EL,Photoluminescence/Electroluminescence)技术进行比对或联用,还可以分析解决制程的很多实际问题。 图9 硅片表面的附着杂质外貌 图9所示为硅片表面吸附透明杂质,利用肉眼很难观察到,但是在LSCM下就可以发现吸附杂质的区域较正常区域有一定的颜色差异。可惜LSCM不能像SEM一样配置能谱仪进行成分测量,所以只能通过杂质的形态、形成环境和化学反应推测其成分。 图10 残缺的银栅线外貌 |