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维信科技 王宇昶:一种简易的6寸标片复制方法及CTM损益分析技术 ...

2016-8-11 12:33| 发布者: Kristy| 查看: 19027| 评论: 0|来自: 光伏测试网

摘要: 姓名:王宇昶单位:维信科技(新加坡)有限公司职务:总经理2016光伏领跑者创新论坛 - 高效电池技术与测试专题研讨会 报告主题:一种简易的6寸标片复制方法及CTM损益分析技术报告摘要: 依据IEC60904 标准定标和复制标 ...

姓名:王宇昶

单位:维信科技(新加坡)有限公司

职务:总经理


2016光伏领跑者创新论坛 - 高效电池技术与测试专题研讨会 报告主题:


一种简易的6寸标片复制方法及CTM损益分析技术


报告摘要:

        依据IEC60904 标准定标和复制标准电池片是一个相当复杂的过程,本报告介绍一种标片复制的简易方法,能够简单快速地从单晶复制去多晶,从3栅标准电池复制去5栅电池。
        组件的转换效率通常会比电池的转换效率低2-3%,造成耗损的因素有很多,组件的电池至边框的留白,电池片之间的空隙,玻璃反射和吸收、EVA的吸收等。但有些因素也能够提升组件转换效率,比如背板的反射,玻璃的陷光特性等。要想提升组件的转换效率,首先需要了解其耗损的机理和掌握其分析技术。本报告介绍一种从电池做成组件(CTM)的损益分析技术,能够量化地分析Isc的损益。

个人简介:  

       王宇昶先生,上海工业大学电子测量硕士学位,先后任职美国Xerox产品质量认证部, 日本Panasonic测试事业部,从事检测技术和设备的研发30多年。现任维信科技(新加坡)有限公司的总经理,负责电池片检测设备的研发。该公司在上海张江高科技园区设有测试技术研发实验室,配备有稳态I-V特性测量系统、电池片Isc耗损分析系统、电池与组件DSR系统、PL&EL成像系统,、光谱仪及IBC电池,MWT电池,HIT双面电池的可控温测试台。

 
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