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红外成像系统进展

2014-8-5 11:03| 发布者: echo| 查看: 18116| 评论: 0

摘要: 随着检测器和数据处理系统的发展,傅里叶变换显微红外光谱技术在短短的二十几年间从单纯的显微镜与红外光谱联用,发展到了红外成像系统。  将傅里叶变换红外光谱仪中的红外光束引入显微镜光路,可以获得在显微镜下 ...
  图4所示为在不使用任何模型矫正的条件下,nano-FTIR获得的近场吸收光谱,由图中可见,其分子指纹特征与使用传统FTIR光谱仪获得的分子指纹特征吻合度极高,这在基础研究和实际应用方面都具有重要意义,因为研究者可以将nano-FTIR光谱与已经广泛建立的传统FTIR光谱数据库中的数据进行对比,从而实现快速准确的进行纳米尺度下的材料化学分析。对化学成分的高敏感度与超高的空间分辨率的结合,使得nano-FTIR成为纳米分析的独特工具。

图4Nano-FTIR所获得的光谱图与传统红外光谱图的比较
  但目前昂贵的价格(大于300万元),较为复杂的操作(需要与AFM联合使用),以及红外光谱波段的限制(每次扫描的波数范围有限),光谱分辨率有待提高等,仍是该类仪器需要克服的难题,同时也是未来发展的方向。

       三、红外光谱成像的信息提取

  使用合适的信息提取方法,从像素光谱中获得所需要的信息,是红外光谱成像技术应用的关键。成像所测量的数据为若干个像素的红外光谱,这些像素具有特定的空间位置,一般用横坐标和纵坐标来表示。如果按照测量时的空间位置进行排列,像素光谱数据需要表示为一个r′c′n维的矩阵,因此需要使用适当的数据处理方法,对上述矩阵进行降维。若将每张像素光谱均转换为反映特定信息的单一数值之后,再按照像素的空间位置将这些数值排列成一个r′c维的矩阵,然后以二维或三维图形表示出来,就得到了反映特定信息的数据采集区域的化学图像。

  常见的降维手段包括:像素光谱平均强度图像,该方法可以反映测试区域内样品数量较多的位置;像素光谱图像特征峰强度或面积图像,该方法可以反映测试区域样品中特征官能团的分布情况;使用模式识别方法对像素光谱进行分类,根据像素光谱所属类别将成像区域分割为不同部分,对各个部分的典型像素光谱进行解析,可以了解一些成分的分布情况等。

  本课题组近期也提出了两种新的振动光谱成像数据信息提取方法。“主成分载荷乘积聚类分析-交替最小二乘法”可用于没有参考信息时的样品化学成分非靶向解析;“偏最小二乘投影-相关系数法”,则主要用于已知目标成分的靶向检测,对微量成分的识别能力更强。若有兴趣可查阅相关文献,此处不多加描述。
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