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新标准提议UL 4730定义晶体硅和薄膜组件性能等级的准确度

2013-4-11 17:29| 发布者: 有机硅测试技术| 查看: 4211| 评论: 0|来自: 本站编辑

摘要: UL 4730为晶体硅和薄膜组件的性能等级的准确度定级确立了新的里程碑。 在过去的十年里,太阳能产业极大地发展,光伏组件需要更准确的性能数据标定。投资者,设计师和规划师选择组件时都在看性能指标,以预测光伏系 ...

       UL 4730为晶体硅和薄膜组件的性能等级的准确度定级确立了新的里程碑。

   在过去的十年里,太阳能产业极大地发展,光伏组件需要更准确的性能数据标定。投资者,设计师和规划师选择组件时都在看性能指标,以预测光伏系统的效率。标准EN50380IEC 61853-1规定,一些关键性能数据都必须显示组件的铭牌上,全面细节则看它的数据表。为了更好地满足投资者的需求,并帮助提高光伏产品的质量档案,UL目前已通过了一个新的标准提案, UL4730,主题是铭牌,数据表,以及光伏组件的采样要求。

       UL主题4730特别侧重于对一系列已知的温度(STCNOCTHTCLTC)和辐照度水平测试,如果作为一个规定的标准被通过,要求准确地反映性能数据,显示在铭牌上,包括在组件的数据表中:开路电压Voc,短路电流IscPmax。修改现有的标准包括减小性能数据最大的误差度,从最大-10%到最大 -3%。此外,必要的信息可以使开发人员能够选择合适PV组件,与区域的经营环境相匹配。

       UL主题4730的另一个重要规定是统计抽样方法,它定义为额定功率的测量采样要求。这种方法更准确地反映一个组件的实际表现,向所有利益相关者提供更大的价值,例如提高制造商的质量计划。为反映数据的置信水平,抽样数是在数据表中所要求信息的重要部分。

   平板光伏组件和面板STP预计将在2013年内作出决定是否采纳UL 4730

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