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PID测试篇 -你所知道的PID “free”真的Free吗 - PID说说(五)

2013-11-18 07:23| 发布者: solartest| 查看: 64463| 评论: 2|原作者: 硅胶板|来自: 中国光伏测试论坛

摘要: 性情之下,写了点关于PID的感想,看到点击量和回复说明大家对PID真滴很感兴趣,也看出在中国光伏行业,PID已经到了一个非说不可的地步了。本篇谈谈鄙人从事PID测试多年来对测试方法和标准的理解,欢迎继续指正。 ...

       性情之下,写了点关于PID的感想,看到点击量和回复说明大家对PID真滴很感兴趣,也看出在中国光伏行业,PID已经到了一个非说不可的地步了。本篇谈谈鄙人从事PID测试多年来对测试方法和标准的理解,欢迎继续指正。

       PID自从被Sunpower等公司发现以来,国外的研究、认证机构有很多深入的探讨。NREL、PI、TUV等率先介绍了他们的测试方法,包括高温和常温室内模拟户外运行环境。但直到2011年,IEC的TC82工作组才开始起草了第一篇关于PID测试的推荐标准草案,并在2012年初对外公布、征求意见。公布后的一年多时间,IEC TC82工作组一直在为起草最终的标准而努力,但至今尚未有确切的进展消息。

       在诸多研究、测试机构所公布的研究方法中,基本的思路是雷同的,这包括:
       1. PID产生的机理:一般都认为是电池片极化的结果,漏电流是形成电池片极化的重要因素;
       2. 组件暴露在正、负偏压都会造成PID,对于P型组件,负偏压的效果更明显;所以正负偏压都要做;
       3. P型、N型、非晶硅薄膜组件都有可能产生PID,所以含硅的组件都要做;
       4. 对系统真实运行环境的模拟:强调边框接地、温度和湿度的协同影响;

       认识雷同,但测试方法各异。这不仅是指环境条件的模拟,也包括环境试验前后对组件性能的评定。通行的做法是:
       1. 实验前对组件对组件做光照预处理;
       2. 目视检查、绝缘性、接地连续性、IV测试;
       3. 模拟环境条件下的正、负偏压试验;
       4. 试验结束后再进行目视检查、绝缘性能、湿漏电、IV测试。

       通行的判断标准一方面是各类检查都能通过IEC61730的要求,另一方面是IV测试中Pmax的损失不超过5%。这些数据成为组件是否通过PID测试,或者说是否能声称抗PID的硬指标。
      这里面备受大家关注的几点,或许对组件即使通过PID测试但是否真的抗PID会引起争论。

      首先从实验前的光照预处理来说说。光照预处理的主要目的是防止因LID造成组件测试的数据不稳定。目前一般采用的光照预处理通常要求组件接受5-20KWH/M2的暴晒,这个跨度给测试留下了很多不确定的因素。不只是说不同公司的组件LID的结果可能是不一样的,单从辐照量的5-20KWH的跨度,就不是一个很严格科学的标准。对组件厂送的样,测试机构并不一定清楚其抗LID的水平,或许需要组件厂自己在送样的时候根据自己产品的质量提出建议,这一点能否做到?甚至说,组件厂送的样或者他们在自己实验室测试的时候有没有做LID?有的组件做完LID后性能可能比暴晒前Pmax更高(可能不太容易让人相信,但确实有,据说有一种可能是因为EVA中的紫外吸收剂经过光照后有效成份降低了,暴晒后紫外部分的转换率反而出来了)。功率损失判定标准本来就只有5%的幅度,几瓦的区别如果就体现着在5%上下那么一点,合不合格就变成一个临界值了。再加上模拟器本身的误差,有时候PID测试过不过就看那么一点运气,除非你的损失真的很低。

       业界其实更关注的是环境条件的模拟。在IEC的现行的推荐稿中,要求是在60C、85%的湿度下做96小时。但实际上测试认证机构很多都是按照组件厂的要求在做模拟。有做室温PID的,有做双八五PID的,也有做48小时的,五花八门。如果不仔细看测试结果,只凭一份报告或者只凭组件厂的声称,还真的无法判断有测试报告的组件是否真的是抗PID了。
       最有争议的恐怕就是室温PID试验了。

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最新评论

引用 05024191 2013-11-19 08:16
给组件通最大电流Imax,同时给组件加-1000V电压,双85条件下测试PID怎么样
引用 solartest 2013-11-24 22:30
做PID试验的时候是将正负极短路的,不知道楼上说的通最大电流是什么方面,怎样通?

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