全球电子产品都以提升质量为目标。为协助企业提升产品的质量，CCIC-SET将于2012年12月20日联合美国Qualmark公司一起在深圳举行“HALT&HASS测试研讨会”，主要从HALT测试案例角度介绍HALT测试以及HALT测试仪器在可靠性工程中的应用。

       主办单位：中检集团南方电子产品测试（深圳）有限公司

       美国Qualmark公司

       香港勤达科技集团

时    间： 2012年12月20日（星期四）13:30——17:00 

地    点：中检集团南方电子产品测试（深圳）有限公司二楼

地    址：深圳市南山区西丽沙河路电子检测大厦

主讲专家介绍：吴建德Walter Wu

       吴建德Walter Wu，现任美国Qualmark公司Technical Manager，并为Qualmark公司亚洲区的技术专家。

       吴建德先生毕业于台湾航空技术学院电子工程系，在 HALT&HASS 工程及 HALT&HASS应用方面拥有超过12年的丰富经验，主讲过50场以上的研讨会，曾经为国内某上市电子公司建立HALT&HASS实验室，并成功将实验室调整至符合DELL电脑的要求，最终成为DELL电脑认可的HALT&HASS实验室。吴建德先生在来Qualmark公司之前就已经辅导过多家公司成立HALT&HASS实验室，是HALT&HASS方面的资深专家。吳建德先生现目前就职于Qualmark，致力于推广HALT&HASS应用技术并指导客户使用，协助客户解决HALT&HASS应用于设备问题。  

       此次会议议程如下：

时间 内容
 13:30-14:00 签到
 14.00-15.00  什么是HALT&HASS
 15:00-15.30 HALT&HASS要如何做
 15.30-16.00 茶歇
 16.00-16.30 案例分析
 16.30-17.00  现场客户答疑、互动交流
本文来自: 深圳电子产品质量检测中心 详细出处参考：http://www.set.org.cn/onews.asp?id=932